Servizio 17: Caratterizzazione strutturale tramite imaging THz di materiali, componenti e dispositivi a semiconduttore e polimerici

Fornito da Università di Pisa - Dipartimento di Fisica

Grazie alla medesima dotazione strumentale nel regime spettrale THz descritta nella voce servizio 16, è anche possibile effettuare delle caratterizzazioni strutturali, sfruttando la possibilità di fare imaging, ossia di effettuare studi spazialmente risolti, con una risoluzione dell’ordine della lunghezza d’onda utilizzata. In questo caso fra le possibili applicazioni tipiche sono inclusi componenti e dispositivi a semiconduttore oppure polimerici.